閃光控制ADI閃光和預(yù)閃光TTL有什么分別

什么是ADI閃光測(cè)光？ADI閃光測(cè)光與TTL閃光測(cè)光有何區(qū)別？要說清楚這個(gè)問題，
就得先說清楚什麼是“TTL測(cè)光系統(tǒng)”：
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“TTL”是英文“through the taking lens”的縮寫，意思是“通過拍攝鏡頭”，“TTL測(cè)光系統(tǒng)”就是相機(jī)“通過拍攝鏡頭測(cè)光”的內(nèi)測(cè)光裝置。也就是相機(jī)測(cè)光和拍攝是通過同樣的鏡頭光路完成的，相對(duì)外測(cè)光裝置來說效果更為準(zhǔn)確。

大家知道，相機(jī)有兩大類測(cè)光方式：外測(cè)光和內(nèi)測(cè)光，其區(qū)別在于測(cè)光元件在相機(jī)上安裝位置不同。外測(cè)光方式是指相機(jī)的測(cè)光元件安置在鏡頭之外，測(cè)光光路和鏡頭光路各自獨(dú)立，通過測(cè)量值控制相機(jī)的正確曝光。但是由于外部的光線測(cè)量受到各種因素的影響，和最終拍攝時(shí)進(jìn)入鏡頭的光線總是有些區(qū)別，所以外測(cè)光的精確度是不太高的， 但是成本較低，因此“傻瓜”相機(jī)基本上都是采用這種相對(duì)簡(jiǎn)單的方式；而內(nèi)測(cè)光（TTL）方式結(jié)構(gòu)相對(duì)比較復(fù)雜，是將測(cè)光元件安裝在鏡頭之后、反光鏡后面或下面的某一位置，測(cè)量通過鏡頭的光線強(qiáng)度，其測(cè)量的光線強(qiáng)度和拍攝時(shí)通過鏡頭的光線強(qiáng)度是一致的，而且其測(cè)光值會(huì)隨著更換鏡頭和外加濾鏡等因素而同步地改變，因此內(nèi)測(cè)光的測(cè)光結(jié)果要比外測(cè)光精確，從而控制曝光也更加準(zhǔn)確。TTL測(cè)光大都應(yīng)用在檔次較高的單鏡頭反光相機(jī)上。

TTL閃光測(cè)光系統(tǒng)則是特指在使用閃光燈輔助照明的條件下，相機(jī)通過鏡頭測(cè)量閃光照度，并且依據(jù)測(cè)量結(jié)果控制閃光輸出強(qiáng)度以實(shí)現(xiàn)正確曝光的一種內(nèi)測(cè)光方式。

大部分知名品牌相機(jī)采用的均為TTL閃光測(cè)光標(biāo)準(zhǔn)，在標(biāo)準(zhǔn)TTL閃光測(cè)光的基礎(chǔ)上又各自獨(dú)立有所發(fā)展，分別推出了各自的升級(jí)系統(tǒng)，所以各廠家的系統(tǒng)名稱也各不相同。例如：佳能先是采用“A-TTL”閃光系統(tǒng)，后來改用更先進(jìn)的“E-TTL”系統(tǒng)；尼康在SB-80DX閃光燈之前使用的是“D-TTL”系統(tǒng)，自SB-800推出起改而采用更加先進(jìn)的“i-TTL”系統(tǒng)；賓德的系統(tǒng)叫“P-TTL”，適馬的系統(tǒng)叫“S-TTL”，而“ADI閃光系統(tǒng)”只不過是美能達(dá)TTL的獨(dú)家稱謂而已。這些系統(tǒng)有的是測(cè)量拍攝物的反光，有的是測(cè)量模擬膠片反光程度的快門簾幕反光來控制曝光量。近來較為高級(jí)的方式大致都是通過拍攝前閃光燈發(fā)出的不可見預(yù)閃光，接收測(cè)量拍攝對(duì)象的瞬間反射光而實(shí)時(shí)校準(zhǔn)曝光量。“ADI閃光系統(tǒng)”的閃光測(cè)光功能可以降低背景光和拍攝對(duì)象的反射影響，從而獲得高水平的精確閃光控制。
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美能達(dá)ADI閃光系統(tǒng)在2000年推出的α-7相機(jī)上最先應(yīng)用，也是幾大廠商中最先推出應(yīng)用的。而尼康的i-TTL和佳能的E-TTL系統(tǒng)都和ADI閃光系統(tǒng)類似，分別在2004年以后的尼康D70、佳能EOS 30V（以及后來的EOS 20D）上才首次采用。
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最早的“標(biāo)準(zhǔn)TTL”閃光，只是考慮到了閃光主體的曝光度，也就是使用閃光拍攝一個(gè)人物，可以保證這個(gè)人曝光合適，至于周圍的環(huán)境，那是管不了的。所以這樣拍攝最有可能的結(jié)果是：人像清晰曝光適度，而背景則是一團(tuán)漆黑；后來出現(xiàn)的這許多種高級(jí)TTL模式，則是可以把背景、周圍環(huán)境、主體距離都測(cè)量下來，全面綜合考慮去控制光圈和閃光，讓照片前后左右都清楚。甚至可以做到在照片上“不留閃光的痕跡”。目前先進(jìn)的TTL閃光測(cè)光技術(shù)還可以實(shí)現(xiàn)拍攝前景人物和拍攝背景環(huán)境的單獨(dú)曝光補(bǔ)償。
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ADI 閃光測(cè)光方式的測(cè)量方法